41 Problemas en la Depuración a Nivel de Sistema Visibilidad de la SI requerida para la integración HW/SW Correlación señales internas/externas, buses Paralelo/Serie Integración y Correlación con Integridad (Gp:) PHY (Gp:) System Serial Bus (Gp:) Internal Bus (Gp:) PHY (Gp:) System Serial Bus (Gp:) Internal Bus (Gp:) DataLink (Gp:) Internal Bus (Gp:) IBus (Gp:) QBus (Gp:) Memory (Gp:) FPGA (Gp:) Processor / NP (Gp:) DSP (Gp:) ASIC (Gp:) JTAG (Gp:) TRACE (Gp:) Internal Bus
(Gp:) Backplane
Internal Buses could be Serial or Parallel
42 Fuentes de Señal Simulación de un evento o secuencia de eventos. Emulación de una señal, como la de un sensor. Reproducir un evento real capturado con un DSO. Substitución de la señal producida por un bloque funcional no disponible aún. Verificación y Prueba de Márgenes con señales ideales o con un nivel controlado de distorsión (o errores). Generadores Arbitrarios (AWG): generadores de señal empleados en la creación e implementación de cualquier tipo de señal requerida para la prueba.
43 Creación y Edición de Señales(Perfect Compliment to a TDS / TLA) (Gp:) DUT (Gp:) Digital Oscilloscope (Gp:) Test Point (Gp:) Standard or Reference / Add Impairments (Gp:) AWG (Gp:) Waveform Capture (Gp:) GPIB / LAN (Gp:) Output (Gp:) Stimulus – Acquisition Model
(Gp:) Data Rate (Gp:) Level (Gp:) Delay (Gp:) Rise Time
44 Oscilloscopios (con Sondas y SW de Análisis Jitter) Optico hasta 40Gbit/s Receptor Optico de Referencai (ORR) integrado Recuperación de Reloj incorporada Disparo con Patrón Serie Test de Máscaras de Comunicación, medidas especiales Jitter Aleatorio y Determinístico Reflectometría en el Dominio del Tiempo (TDR) Analizadores Lógicos (con Sondas sin Conectores) Capacidad de captura síncrona de alta velocidad Análisis de tiempos de muy alta resolución Traza en tiempo real de la ejecución de software Trazado de múltiples buses a la vez Correlación precisa del comportamiento digital y la calidad analógica de las señales Generadores de Señales Digitales (con Sondas) Generadores arbitrarios (adición de defectos/errores) Generadores de Datos/Patrones (estímulo) Herramientas
45 Soluciones Las tecnologías de ordenadores y comunicaciones marcan los requerimientos críticos relacionados con la SI Los estándares industriales especifican medidas y máscaras SI Las velocidades de datos crecen a gran velocidad, >1Gb/s Severa problemática de SI en el diseño de alta velocidad Muchas consideraciones y soluciones de medida “Integración y Correlación” de señales Analogicas + Digitales “Jitter y BER” empiezan a ser conceptos importantes N ningún fabricante T&M está mejor posicionado que Tektronix
| Página siguiente |