Circuitos de corriente continua – condensadores

1. Objetivos
2. Fundamentos teóricos
3. I parte  (leyes de kirchhoff)
4. Metodología
6. Marco teorico
7. Metodología
8. Bibliografía

OBJETIVOS

Objetivo General

·         Al finalizar el presente trabajo práctico, el alumno estará en capacidad de montar y comprobar mediante circuitos sencillos, las Leyes de Kirchhoff para circuitos de corriente continua.  Analizar el comportamiento de carga de los condensadores.

Objetivo Específico

• Comprobar experimentalmente, la aplicación de las Leyes de Kirchhoff y explicar de manera lógica y razonada las posibles diferencias existentes entre los valores teóricos y los experimentales además de calcular su respectivo error de medición.

Fundamentos Teóricos

            Como es de su conocimiento por Física II, un circuito simple puede analizarse utilizando la Ley de Ohm y las reglas de combinaciones en serie y paralelo de resistencias.  Muchas veces no es posible reducirlo a un circuito de un simple lazo.  El procedimiento para analizar un circuito más complejo se simplifica, de manera notoria, al utilizar dos reglas llamadas Leyes de Kirchhoff.

            1º Regla.  La suma algebraica de las intensidades en un nodo es igual a cero.

                        i = 0

            2º Regla.  La suma algebraica de las fem es igual a la suma algebraica de las intensidades por las resistencias.

                        = (R * i)

I Parte  (Leyes de Kirchhoff)

Materiales a Utilizar:

• Generador de corriente continua.
• Resistencias de 20 ohmio.
• Multímetro.
• Cables conectores.

Metodología

·         Monte el siguiente circuito de corriente continua y pida que lo revisen.

·         Una vez concluido el paso anterior, suminístrele al circuito corriente, sin exceder los 15 Voltios y con los aparatos de medición, proceda a realizar todas las lecturas de las intensidades y las diferencias de potencial en cada resistencia. Presente sus resultados en un cuadro resumen demostrativo donde aparezcan los valores medidos, experimentales y el error relativo de cada medición.